在材料的生產(chǎn)、研發(fā)、測試中往往面臨著材料電阻及電阻率的測試，市場上的電阻率測試裝置千篇一律，但是針對技術(shù)的角度來看待這種電阻率的測試裝置時，卻有著失之毫厘差之千里的差距。不管是在常溫或者高溫環(huán)境下測量電阻率，首先解決的就是外界干擾問題。

         即使市場上有著各種各樣的電阻率測試裝置，但是大多電阻率測試裝置當電阻值達到10e10Ω時，所測量，的值度較低，包含太多干擾值。低阻值的材料電壓輸出時電流相對干擾電流較大，干擾電流可以忽略；當材料電阻較大，材料兩端輸入電壓時，電流相對干擾電流而言相差不大，所以當測量高阻值的材料時組成測試線路的材料必須采用更高阻值的材料，市場上大多達不到這個要求。

        同時，市場上測量電阻的設(shè)備大多采用伏安法，在伏安法中重要的環(huán)節(jié)莫過于一個的電流表，其次才是電壓源。華測生產(chǎn)的HEST-300系列表面體積電阻率測試儀采用了高的精度電流采集芯片、高穩(wěn)定度的電壓源，和的屏蔽線路。使得屏蔽效果較之前的同類測試設(shè)備大大提高。同時采用數(shù)字化的處理方式，用熒光屏取代以往的數(shù)碼管，可同時直接顯示電阻值、電流值、電阻率值。而且設(shè)備也可用于測試微電流。配置不同的測試夾具，可測量固體材料、液體材料、膏體材料、粉體材料。