1、本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

　　2、四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序，通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。

　　3、具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。高的精度的輸出與測(cè)量規(guī)格，保障檢測(cè)結(jié)果的品質(zhì)，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測(cè)。

　　4、測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。

　　5、用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。

　　二：高溫四探針測(cè)試儀的特點(diǎn)：

　　1、采用雙電測(cè)組合測(cè)量模式，不用進(jìn)行系數(shù)修正。

　　2、可以測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率。

　　3、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線。

　　4、可以自動(dòng)調(diào)節(jié)施加在樣品的測(cè)試電壓，以防樣品擊穿。

　　5、高耐磨碳化鎢探針探頭，測(cè)量硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻。

　　6、球形鍍金銅合金探針探頭，測(cè)量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。

　　7、配合四端子測(cè)試夾具，測(cè)量電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻。

　　8、探頭可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

　　總結(jié)：高溫四探針測(cè)試儀的應(yīng)用及特點(diǎn)小編就知道這么多，看完本文您就應(yīng)該有了基本的認(rèn)識(shí)和了解相信大家都明白了吧！總的來說，希望對(duì)大家有所幫助。